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Characterization of lattice parameters gradient of Cu(In1-xGax)Se-2 absorbing layer in thin-film solar cell by glancing incidence X-ray C diffraction technique

작성자

관리자

조회수

22

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 기간시설 안전 측정기술 개발
논문명 Characterization of lattice parameters gradient of Cu(In1-xGax)Se-2 absorbing layer in thin-film solar cell by glancing incidence X-ray C diffraction technique
성과고유번호 JNL-2020-00111598957 성과발생연도 2020 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Kim, Ki-Bok;Kim, Miso;Kim, Yong-Il 소속기관명 한국표준과학연구원 기여율 100.0 %
공동저자
학술지
학술지명 JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY 권(호) 51 시작페이지 193
DOI 10.1016/j.jmst.2020.04.004 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 03시 58분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 25분