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Nonuniformity-Immune Read-In Integrated Circuit for Infrared Sensor Testing Systems

작성자

관리자

조회수

22

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 산업·사회 혁신을 위한 초연결지능 교육연구단
논문명 Nonuniformity-Immune Read-In Integrated Circuit for Infrared Sensor Testing Systems
성과고유번호 JNL-2020-00111642935 성과발생연도 2020 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Woo, Doohyung;Lee, Heechul;Cho, Minji 소속기관명 한국과학기술원 기여율 0.0 %
공동저자
학술지
학술지명 Electronics 권(호) 9 (10) 시작페이지
DOI 10.3390/electronics9101603 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 03시 59분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 25분