논문 상세
목록Extraction of Interface Trap Density Through Synchronized Optical Charge Pumping in Gate-All-Around MOSFETs
작성자
관리자
조회수
17
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | 산업·사회 혁신을 위한 초연결지능 교육연구단 | ||||
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| 논문명 | Extraction of Interface Trap Density Through Synchronized Optical Charge Pumping in Gate-All-Around MOSFETs | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2020-00111642951 | 성과발생연도 | 2020 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Lee, Geon-Beom;Choi, Yang-Kyu | 소속기관명 | 한국과학기술원 | 기여율 | 0.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | 권(호) | 41 (11) | 시작페이지 | 1629 | ||
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| DOI | 10.1109/LED.2020.3022025 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 03시 59분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 25분 | ||||
논문 원문