논문 상세
목록Comparison of quantitative analyses using SIMS, atom probe tomography, and femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry with Si1-XGeX and Fe1-X Ni-X binary alloys
작성자
관리자
조회수
17
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | ICT 핵심소재 성분분석 최상위 기술개발 | ||||
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| 논문명 | Comparison of quantitative analyses using SIMS, atom probe tomography, and femtosecond laser ablation inductively coupled plasma mass spectrometry with Si1-XGeX and Fe1-X Ni-X binary alloys | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2020-00111424199 | 성과발생연도 | 2020 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Kim, Donghwan;Kim, Seon Hee;Jang, Yun Jung;Lee, Yeonhee;Kim, Kyung Joong | 소속기관명 | 한국표준과학연구원 | 기여율 | 100.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B | 권(호) | 38 (3) | 시작페이지 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DOI | 10.1116/6.0000101 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 03시 59분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 25분 | ||||
논문 원문