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Test Case Generation Method for Increasing Software Reliability in Safety-Critical Embedded Systems

작성자

관리자

조회수

22

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 스마트 IoT를 위한 SW 및 SoC 창의인력 양성사업
논문명 Test Case Generation Method for Increasing Software Reliability in Safety-Critical Embedded Systems
성과고유번호 JNL-2020-00111684450 성과발생연도 2020 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Kim, Hyungshin;Koo, Bongjoo;Bae, Jungho;Park, Kangmin;Kim, Seogbong 소속기관명 충남대학교 기여율 100.0 %
공동저자
학술지
학술지명 Electronics 권(호) 9 (5) 시작페이지
DOI 10.3390/electronics9050797 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 03시 59분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 25분