논문 상세
목록Correlation between low-frequency noise and interface traps of fully-depleted silicon-on-insulator tunneling FETs induced by hot carrier stress
작성자
관리자
조회수
38
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | 미래국방 지능형ICT 교육연구단 | ||||
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| 논문명 | Correlation between low-frequency noise and interface traps of fully-depleted silicon-on-insulator tunneling FETs induced by hot carrier stress | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2020-00111645252 | 성과발생연도 | 2020 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Shin, Hyun-Jin;Lee, Hi-Deok;Choi, Hyun-Woong;Eadi, Sunil Babu;Song, Hyeong-Sub;Kwon, Hyuk-Min;Kim, Seong-Hyun;Kim, Do-Woo;Song, Hyun-Dong | 소속기관명 | 충남대학교 | 기여율 | 0.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 권(호) | 59 (10) | 시작페이지 | |||
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| DOI | 10.35848/1347-4065/abb8f0 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 04시 00분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 26분 | ||||
논문 원문