논문 상세
목록Semi-Supervised Multi-Label Learning for Classification of Wafer Bin Maps With Mixed-Type Defect Patterns
작성자
관리자
조회수
43
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | 디지털 제조 혁신 인재 양성 사업단 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 논문명 | Semi-Supervised Multi-Label Learning for Classification of Wafer Bin Maps With Mixed-Type Defect Patterns | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2020-00111652573 | 성과발생연도 | 2020 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Kim, Heeyoung;Lee, Hyuck | 소속기관명 | 한국과학기술원 | 기여율 | 100.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING | 권(호) | 33 (4) | 시작페이지 | 653 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DOI | 10.1109/TSM.2020.3027431 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 04시 00분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 26분 | ||||
논문 원문