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Effects of Recessed-Gate Structure on AlGaN/GaN-on-SiC MIS-HEMTs with Thin AlOxNy MIS Gate

작성자

관리자

조회수

34

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 초고주파 전력증폭기용 GaN-on-SiC 에피 소재 기술 개발
논문명 Effects of Recessed-Gate Structure on AlGaN/GaN-on-SiC MIS-HEMTs with Thin AlOxNy MIS Gate
성과고유번호 JNL-2020-00111587830 성과발생연도 2020 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Kang, Myoung-Jin;Seo, Kwang-Seok;Kim, Jeong Jin;Kim, Hyun-Seop;Cha, Ho-Young 소속기관명 한국전자통신연구원 기여율 25.0 %
공동저자
학술지
학술지명 Materials 권(호) 13 (7) 시작페이지
DOI 10.3390/ma13071538 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 02분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 27분