논문 상세
목록Design for High Reliability of CMOS IC With Tolerance on Total Ionizing Dose Effect
작성자
관리자
조회수
39
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | 원전 압력경계 누설탐지를 위한 신개념 복합센싱기술 개발 | ||||
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| 논문명 | Design for High Reliability of CMOS IC With Tolerance on Total Ionizing Dose Effect | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2020-00111498473 | 성과발생연도 | 2020 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Kim, Jongyeol;Cho, Seongik;Lee, Minwoong;Lee, Namho | 소속기관명 | 한국원자력연구원 | 기여율 | 50.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY | 권(호) | 20 (2) | 시작페이지 | 459 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| DOI | 10.1109/TDMR.2020.2994390 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 04시 03분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 29분 | ||||
논문 원문