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Thickness-Independent Semiconducting-to-Metallic Conversion in Wafer-Scale Two-Dimensional PtSe2 Layers by Plasma-Driven Chalcogen Defect Engineering

작성자

관리자

조회수

38

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 극한환경 적용을 위한 저온 전자현미경 기반 반도체 나노소재 물성 및 개질 연구
논문명 Thickness-Independent Semiconducting-to-Metallic Conversion in Wafer-Scale Two-Dimensional PtSe2 Layers by Plasma-Driven Chalcogen Defect Engineering
성과고유번호 JNL-2020-00111490796 성과발생연도 2020 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Gil, Jaeyoung;Han, Sang Sub;Kwon, Junyoung;Jung, Yeonwoong;Wang, Mengjing;Oh, Kyu Hwan;Roy, Tania;Shawkat, Mashiyat Sumaiya;Dev, Durjoy;Jung, YounJoon;Chung, Hee-Suk;Ko, Tae-Jun;Lee, Gwan-Hyoung 소속기관명 한국기초과학지원연구원 기여율 25.0 %
공동저자
학술지
학술지명 ACS Applied Materials & Interfaces 권(호) 12 (12) 시작페이지 14341
DOI 10.1021/acsami.0c00116 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 04분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 29분