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MAESTRO: Automated test generation framework for high test coverage and reduced human effort in automotive industry

작성자

관리자

조회수

39

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 동적/정적 SW 데이터 기반 학습을 통해 향상된 SW 오류 검출 및 위치 추정 기술
논문명 MAESTRO: Automated test generation framework for high test coverage and reduced human effort in automotive industry
성과고유번호 JNL-2020-00111279145 성과발생연도 2020 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Baek, Junki;Kim, YunHo;Kim, Moonzoo;Lee, Dongju 소속기관명 한국과학기술원 기여율 50.0 %
공동저자
학술지
학술지명 INFORMATION AND SOFTWARE TECHNOLOGY 권(호) 123 시작페이지
DOI 10.1016/j.infsof.2019.106221 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 05분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 30분