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Synthesis of Lithography Test Patterns Using Machine Learning Model

작성자

관리자

조회수

38

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 머신러닝을 이용한 반도체 리소그래피 해상도향상기술에 관한 연구
논문명 Synthesis of Lithography Test Patterns Using Machine Learning Model
성과고유번호 JNL-2021-00112131691 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Kareem, Pervaiz 소속기관명 한국과학기술원 기여율 100.0 %
공동저자
학술지
학술지명 IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING 권(호) 34 (1) 시작페이지 49
DOI 10.1109/TSM.2021.3052302 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 07분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 31분