논문 상세
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작성자
관리자
조회수
31
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | CMOS 기술을 이용한 융 복합 하드웨어 기반 나노 보안기술 | ||||
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| 논문명 | Lateral profiling of gate dielectric damage by off-state stress and positive-bias temperature instability | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2021-00112003044 | 성과발생연도 | 2021 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Lee, Geon-Beom | 소속기관명 | 한국과학기술원 | 기여율 | 30.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | MICROELECTRONICS RELIABILITY | 권(호) | 127 (0) | 시작페이지 | |||
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| DOI | 10.1016/j.microrel.2021.114383 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 04시 07분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 32분 | ||||
논문 원문