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Investigation of Leaky Characteristic in a Single-Transistor-Based Leaky Integrate-and-Fire Neuron

작성자

관리자

조회수

37

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 CMOS 기술을 이용한 융 복합 하드웨어 기반 나노 보안기술
논문명 Investigation of Leaky Characteristic in a Single-Transistor-Based Leaky Integrate-and-Fire Neuron
성과고유번호 JNL-2021-00111992961 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Han, Joon-Kyu 소속기관명 한국과학기술원 기여율 50.0 %
공동저자
학술지
학술지명 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 권(호) 68 (11) 시작페이지 5912
DOI 10.1109/TED.2021.3110830 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 08분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 32분