논문 상세
목록Improved Self-Curing Effect in a MOSFET With Gate Biasing
작성자
관리자
조회수
37
등록일
2024-07-23
논문 상세정보
| 과제 | CMOS 기술을 이용한 융 복합 하드웨어 기반 나노 보안기술 | ||||
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| 논문명 | Improved Self-Curing Effect in a MOSFET With Gate Biasing | ||||
| 성과고유번호 | JNL-2021-00111992963 | 성과발생연도 | 2021 | 국내외구분 | |
| 학술지구분 | 학술지유형 | SCIE | |||
| 논문초록 | |||||
| 주저자 | Lee, Geon-Beom | 소속기관명 | 한국과학기술원 | 기여율 | 30.0 % |
| 공동저자 | |||||
학술지
| 학술지명 | IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | 권(호) | 42 (12) | 시작페이지 | 1731 | ||
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| DOI | 10.1109/LED.2021.3119281 | ISSN | ISBN | ||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-07-23 PM 04시 09분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 33분 | ||||
논문 원문