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Abnormal Thermal Instability of Al-InSnZnO Thin-Film Transistor by Hydroxyl-Induced Oxygen Vacancy at SiOx/Active Interface

작성자

관리자

조회수

39

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 고이동도 낮은 밴드갭 특성을 갖는 Oxynitride 산화물 반도체를 이용한 생체인식전자소자 연구
논문명 Abnormal Thermal Instability of Al-InSnZnO Thin-Film Transistor by Hydroxyl-Induced Oxygen Vacancy at SiOx/Active Interface
성과고유번호 JNL-2021-00111913206 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Jeon, Guk-Jin 소속기관명 한국과학기술원 기여율 50.0 %
공동저자
학술지
학술지명 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 권(호) 42 (3) 시작페이지 363
DOI 10.1109/LED.2021.3054859 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 10분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 34분