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Circuit model for flat cut-off probes with coplanar capacitance

작성자

관리자

조회수

29

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 첨단측정장비 핵심기술 개발
논문명 Circuit model for flat cut-off probes with coplanar capacitance
성과고유번호 JNL-2021-00112136537 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Yeom, H. J. 소속기관명 (재)한국표준과학연구원 기여율 25.0 %
공동저자
학술지
학술지명 PLASMA SOURCES SCIENCE & TECHNOLOGY 권(호) 30 (6) 시작페이지
DOI 10.1088/1361-6595/abef1a ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 12분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 35분