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High Breakdown Voltage and Low-Current Dispersion in AlGaN/GaN HEMTs With High-Quality AlN Buffer Layer

작성자

관리자

조회수

34

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 국방 무기체계용 핵심 반도체 부품 자립화 플랫폼 개발
논문명 High Breakdown Voltage and Low-Current Dispersion in AlGaN/GaN HEMTs With High-Quality AlN Buffer Layer
성과고유번호 JNL-2021-00112115578 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Kim, Jeong-Gil 소속기관명 한국전자통신연구원 기여율 50.0 %
공동저자
학술지
학술지명 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES 권(호) 68 (4) 시작페이지 1513
DOI 10.1109/TED.2021.3057000 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 18분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 39분