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Noise Improvement of a-Si Microbolometers by the Post-Metal Annealing Process

작성자

관리자

조회수

31

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 국방 무기체계용 핵심 반도체 부품 자립화 플랫폼 개발
논문명 Noise Improvement of a-Si Microbolometers by the Post-Metal Annealing Process
성과고유번호 JNL-2021-00112115560 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Oh, Jaesub 소속기관명 한국전자통신연구원 기여율 33.33 %
공동저자
학술지
학술지명 SENSORS 권(호) 21 (20) 시작페이지
DOI 10.3390/s21206722 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 19분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 40분