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Calibration-free real-time organic film thickness monitoring technique by reflected X-Ray fluorescence and compton scattering measurement

작성자

관리자

조회수

38

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 조사핵연료 고체화학 특성 규명 연구
논문명 Calibration-free real-time organic film thickness monitoring technique by reflected X-Ray fluorescence and compton scattering measurement
성과고유번호 JNL-2021-00111923918 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Park, Junghwan 소속기관명 (재)한국원자력연구원 기여율 100.0 %
공동저자
학술지
학술지명 NUCLEAR ENGINEERING AND TECHNOLOGY 권(호) 53 (4) 시작페이지 1297
DOI 10.1016/j.net.2020.09.018 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 20분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 41분