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Similarity Search on Wafer Bin Map Through Nonparametric and Hierarchical Clustering

작성자

관리자

조회수

17

등록일

2024-07-23

논문 상세정보
과제 디지털 제조 혁신 인재 양성 사업단
논문명 Similarity Search on Wafer Bin Map Through Nonparametric and Hierarchical Clustering
성과고유번호 JNL-2021-00112182334 성과발생연도 2021 국내외구분
학술지구분 학술지유형 SCIE
논문초록
주저자 Lee, Jea Hoon 소속기관명 한국과학기술원 기여율 100.0 %
공동저자
학술지
학술지명 IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING 권(호) 34 (4) 시작페이지 464
DOI 10.1109/TSM.2021.3102679 ISSN ISBN
최초등록 관리자, 2024-07-23 PM 04시 24분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 43분