과제 상세정보
목록위상측정 광선편향법을 이용한 대면적 자유형상 비접촉식 고분해능/고속 검사 장치 개발
작성자
관리자
조회수
58
등록일
2024-05-21
사업 정보
| 내역사업 | 특구 연구성과사업화 |
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과제 기본정보
| 과제명 | 위상측정 광선편향법을 이용한 대면적 자유형상 비접촉식 고분해능/고속 검사 장치 개발 | ||||
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| 과제고유번호 | 1711123910 | ||||
| 부처명 | 과학기술정보통신부 | ||||
| 시행계획 내 사업명 | |||||
| 시행계획 내 사업유형 | 예산출처지역 | 대전광역시 | 사업수행지역 | 대전광역시 | |
| 계속/신규 과제구분 | 신규과제 | ||||
| 과제수행연도 | 2020 | 총연구기간 | 2020-06-01 ~ 2021-05-31 | 당해연도 연구기간 | 2020-06-01 ~ 2021-05-31 |
요약 정보
| 연구목표 | 위상측정 광선편향법 (PMD)을 이용한 대면적 자유곡면 고해상도/고속/비접촉 검사 장비 시제품 개발Phase measuring deflectometry (PMD) 방법을 적용하여 대면적 자유형상(300 mm) 광부품을 고해상도(1.5 m) / 고속(2 min)/ 비접촉식 검사 장비 시제품을 개발하고, 성능 검증을 통해 검사 장비 시제품을 제작하려 함. 자유... | ||
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| 연구내용 | ◦ 이전된 기술을 활용하여 PMD 검사 장비 시제품 성능평가를 통한 제품화PMD 고속 검사 장비 시제품 개발을 위한 H/W, S/W 통합 및 시제품 패키징과 통합시스템 구축을 통하여 제품화. 성능평가를 위한 초정밀 가공 샘플을 제작하여 비교 검증을 통해 성능 평가 및 최적화 실시. 3차원 형상 측정 알고리즘 개발 및 최적화 부분과 측정 결과를 통한 성능 평... | ||
| 기대효과 | ◦ 매출증대 및 비용 절감 효과- 대규모 가공 공정라인의 전수 검사를 위한 빠르고 높은 신뢰성의 측정/검사 기술이 필요하지만, 현재까지 자유곡면의 3차원 측정 기술은 간섭 방법이 가장 많이 사용되고 있음. 정밀도 및 신뢰도에서는 매우 탁월하나, 장비 가격이 비싸며, 측정면적이 작고 외부환경의 영향을 많이 받아 생산 현장에 적용하기가 어려움- 이전 받으려는 ... | ||
| 키워드 | 위상측정 광선편향법,대면적 자유곡면,3차원 측정,비접촉식,정밀광학부품,헤드업디스플레이 | ||
위탁/공동여부 정보
| 단독연구 | 기업 | 대학 | 국공립(연)/출연(연) | 외국연구기관 | 기타 |
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기술 정보
| 연구개발단계 | 개발연구 | 산업기술분류 | |
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| 미래유망신기술(6T) | NT(나노기술) | 기술수명주기 | |
| 연구수행주체 | 산 | 과학기술표준분류 | 인공물 > 정보/통신 > 정보통신모듈/부품 > 달리 분류되지 않는 정보통신 모듈/부품 |
| 주력산업분류 | 적용분야 | 제조업(전자부품,컴퓨터,영상,음향및통신장비) | |
| 중점과학기술분류 | 과제유형 |
과제수행기관(업) 정보
| 과제수행기관(업) 정보 | 과제수행기관(업)명 | (주)와이엔디케이 | 사업자등록번호 | |
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| 연구책임자 | 소속기관명 | (주)와이엔디케이 | 사업자등록번호 | |
| 최종학위 | 석사 | 최종학력전공 | 공학 |
사업비
| 국비 | 170,000,000 | 지방비(현금+현물) | 0 |
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| 비고 | |||