| 연구목표 |
현재 CMOS 기반의 로직용 소자에서 성능을 높이기 위한 소자 스케일링이 한계에 이르렀고, 소자의 크기가 계속 줄어들면서 소자 수준에서 지연 시간과 전력 소모는 줄어들고 있습니다. 하지만, Planar 구조의 칩 설계에서 긴 배선에 의한 지연 시간과 전력 소모 (∝ρεdiL2)가 칩 성능의 주요 제한 요소가 되었습니다. 이러한 문제를 극복하기 위해서 산업에... |
| 연구내용 |
본 연구를 달성하기 위해서는 네 가지의 과업을 수행해야 합니다. 첫 번째로 하단소자로 사용될 Si nFET, 상단소자로 사용될 Ge pFET의 gate-all-around 구조의 개별소자 조건확보입니다. 앞으로 산업에서 사용될 3나노 노드는 gate-all-around 구조를 도입하려고 합니다. 따라서 이와 같은 구조를 가지는 소자를 공정해서 3차원 적층의... |
| 기대효과 |
산업/과학 기술적 측면 현재 성숙한 기술을 보유하고 있는 Si nMOSFET과 hole mobility가 높은 Ge pMOSFET의 3차원 적층 구조의 연구결과가 성공적으로 수행된다면, 기존의 방법인 평면상에 공정 된 소자보다 전력 소모, 지연 시간의 개선과 집적도 향상을 위한 계기가 될 것입니다.학문적 측면 또한, 본 연구가 성공적으로 수행될 경우, 국제... |
| 키워드 |
실리콘 채널 n타입 모스펫,저마늄 채널 p타입 모스펫,상보 트랜지스터,웨이퍼 본딩,액티브 층 전사 |