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2024-05-22
내역사업 | 패키지형 |
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과제명 | EUV Mask 자동결함 분석을 위한 광학 기술 및 요소기술 개발 | ||||
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과제고유번호 | 1415180310 | ||||
부처명 | 산업통상자원부 | ||||
시행계획 내 사업명 | |||||
시행계획 내 사업유형 | 예산출처지역 | 대전광역시 | 사업수행지역 | 대전광역시 | |
계속/신규 과제구분 | 신규과제 | ||||
과제수행연도 | 2022 | 총연구기간 | 2022-04-01 ~ 2025-12-31 | 당해연도 연구기간 | 2022-04-01 ~ 2022-12-31 |
연구목표 | [주관연구개발기관(주식회사 킴스레퍼런스)] o 나노구조체 표준물질 제작법 확립 o 원자현미경 탐침 특성평가용 표준물질 개발 [공동연구개발기관1(한국표준과학연구원)] o 패턴주사 방식을 이용한 고해상도 현미경 광학시스템 설계 및 제작, 기초성능 평가 o 반사형 Fourier ptychographic microscopy (FPM)을 이용한 초정밀 측정... | ||
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연구내용 | [주관연구개발기관(주식회사 킴스레퍼런스)]o 나노구조체 표준물질 제작법 확립 - (1) Si (100) 기판 위에 Si/SiO2 다층박막을 증착하고 (2) 고온 열처리, (3) 웨이퍼 접착, (4) 웨이퍼 절단, (5) 절단면 수평 연마 및 (6) 선택적 에칭 과정을 통한 나노구조체 표준물질 제작 단계별 최적 조건을 확립 o 원자현미경 탐침 특성평가용... | ||
기대효과 | - 대면적 고속 광학 검사를 분석 생산성 향상과 수율을 개선 - EUV 마스크/펠리클 검사 기술에 필요한 요소 기술개발을 통한 해외 기술 의존 및 수입대체 효과 - 장비 구축에서 발생 가능한 불안요소 절감 및 신제품 신뢰성 향상 - 측정 장비 사양 검증 및 성능 평가 | ||
키워드 | 표준물질,광학현미경,수평해상도,깊이해상도,결함 검사 |
단독연구 | 기업 | 대학 | 국공립(연)/출연(연) | 외국연구기관 | 기타 |
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연구개발단계 | 개발연구 | 산업기술분류 | |
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미래유망신기술(6T) | NT(나노기술) | 기술수명주기 | |
연구수행주체 | 산 | 과학기술표준분류 | 인공물 > 전기/전자 > 계측기기 > 물리량 시험/분석 계측기 |
주력산업분류 | 적용분야 | 제조업(비금속광물 및 금속제품) | |
중점과학기술분류 | 과제유형 |
과제수행기관(업) 정보 | 과제수행기관(업)명 | (주)킴스레퍼런스 | 사업자등록번호 | |
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연구책임자 | 소속기관명 | (주)킴스레퍼런스 | 사업자등록번호 | |
최종학위 | 박사 | 최종학력전공 | 이학 |
국비 | 368,000,000 | 지방비(현금+현물) | 0 |
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비고 |