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반도체 디스플레이 공정 in-situ 모니터링 TOF-MS 국산화

작성자

관리자

조회수

87

등록일

2024-05-22

사업 정보
내역사업 2022년도 중소기업기술혁신개발사업 ‘소부장일반(재도약과제)’ 상반기 시행계획 공고
과제 기본정보
과제명 반도체 디스플레이 공정 in-situ 모니터링 TOF-MS 국산화
과제고유번호 1425163229
부처명 중소벤처기업부
시행계획 내 사업명
시행계획 내 사업유형 예산출처지역 대전광역시 사업수행지역 대전광역시
계속/신규 과제구분 신규과제
과제수행연도 2022 총연구기간 2022-04-01 ~ 2024-03-31 당해연도 연구기간 2022-04-01 ~ 2022-12-31
요약 정보
연구목표 *반도체 디스플레이 생산 공정 in-situ 모니터링을 위한 TOF-MS 소형화- 시스템 저체 사이즈 : 450*250*360(3Kg 이내)- Full mass 스켄 간격 : 0.5초- 측정 범위 : 0~500 amu- 분해능 : 400 (m/delta m)- 연속 측정 일 : 90일(설비 PM 주기)
연구내용 &lt주관기관&gt- TOF-MS 소형화- 오염방지 기술 적용- 주입압력 자동제어 인넷 모듈 개발- 소형 이온 검출기 개발- TOF-MS 이온 검출기 오염 방지 기술 개발- 반도체 디스플레이 공정 진단 모니터링 전용 S/W 개발 - 마케팅 전략 수립- 홍보물 제작 및 배포- 현장 Demo test
기대효과 1) 연구개발성과의 활용방안□ 기술적- 기존 대형 ToF-MS의 장점을 소형/경량화로 장비의 일상모니터링을 실현- 공정에 영향을 주지 않으면서 공정 부산물을 정확히 특정하는 진단기법을 실현- 공정의 현수준을 판단하는 모니터링, 공정 결과물의 예측과 공정장비/부품의 내구성 및 수명 평가 등 개별 장비수준의 스마트화를 실현하는 정보 수집 실현- 온실가스 배출량...
키워드 비행시간 질량 분석기,소형화,반도체 디스플레이,실시간 공정 모니터링,온실가스 간접배출 저감
위탁/공동여부 정보
단독연구 기업 대학 국공립(연)/출연(연) 외국연구기관 기타
기술 정보
연구개발단계 개발연구 산업기술분류
미래유망신기술(6T) ET(환경기술) 기술수명주기
연구수행주체 과학기술표준분류 자연 > 화학 > 분석화학 > 질량분석학
주력산업분류 적용분야 환경
중점과학기술분류 과제유형
과제수행기관(업) 정보
과제수행기관(업) 정보 과제수행기관(업)명 (주)이엘 사업자등록번호
연구책임자 소속기관명 (주)이엘 사업자등록번호
최종학위 학사이하 최종학력전공 이학
사업비
국비 180,000,000 지방비(현금+현물) 0
비고