| 연구목표 |
반도체 검사 공정에 사용되는 소켓은 크게 일반적인 환경에서 사용되는 테스트 소켓(Test Socket)과 높은 스트레스 조건에서의 번인(Bun-in)과 함께 테스트를 진행하는 번인 소켓(Burn-in Socket)의 두 가지로 나눌 수 있다. 번인 소켓은 고온 조건과 임곗값에 가까운 높은 전압을 가하면서 제품검사를 수행하는 소켓으로, 일반적으로 고객이 1년... |
| 연구내용 |
현재 번인 소켓(Burn-in Test Socket) 조립 공정을 인가공으로 진행하고 있으며 사람이 직접 조립을 하다보니 일정한 형태의 조립품이 출하되어야 하나 작업자에 따라 휴먼불량이 발생 됨. 또한 부품 빠짐 및 체결 불량의 조립 불량이 빈번하게 발생 되며 원자재 조달 및 분실등 관리의 어려움 발생. 국내 업체들이 장비를 제작하려고 검토를 하였으나, 조... |
| 기대효과 |
현재 확보되어 있는 국내·외 번인 소켓 공정 라인 기업 고객을 대상으로 당사 설비에 대한 홍보 및 영업을 진행할 것임. - 개발 제품의 기술 경쟁력 및 가격 경쟁력을 확보하고 이를 바탕으로 현재 거래 중인 업체를 통해 시장에 진출하여 제품 및 업체 인지도를 높이는데 초점을 맞춤 - 국내 회사들에게 당사 개발기술의 우수성을 널리 홍보하고 ... |
| 키워드 |
아이씨 소켓 부품을 조립하는 전용 조립 기술 개발 |