지식재산권 상세
목록양자 진단 회로 및 그것의 양자 특성 진단 방법
작성자
관리자
조회수
26
등록일
2024-04-11
지식재산권 상세정보
| 과제 | 인공지능 처리성능 한계를 극복하는 고성능 컴퓨팅 기술 연구 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| 지식재산권명 | 양자 진단 회로 및 그것의 양자 특성 진단 방법 | ||||
| 성과고유번호 | PTO-2020-00211612961 | 성과발생연도 | 2020 | 국내외구분 | 국내 |
| 출원/등록번호 | 10-2020-0151404 | 출원/등록일자 | 2020-11-12 | 출원/등록기관 | 한국전자통신연구원 |
| 출원/등록기관 사업자등록번호 | 특허유형 | 특허 | 출원/등록구분 | 출원 | |
| 기여율 | 100.0 % | 공개여부 | 공개 | ||
| 증빙자료 | |||||
| 최초등록 | 관리자, 2024-04-11 PM 02시 08분 | 최종수정 | 관리자, 2024-10-24 PM 01시 32분 | ||
지식재산권 원문