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분광법을 사용한 유기물 반도체 재료의 안정성 분석 방법 및 이를 위한 시스템

작성자

관리자

조회수

30

등록일

2024-04-11

지식재산권 상세정보
과제 Charge Induced Spectroscopy를 통한 유기물 반도체의 degradation mechanism 규명
지식재산권명 분광법을 사용한 유기물 반도체 재료의 안정성 분석 방법 및 이를 위한 시스템
성과고유번호 app_2021_0000008394 성과발생연도 2021 국내외구분 국내
출원/등록번호 1020210041250 출원/등록일자 2021-03-30 출원/등록기관 한밭대학교 산학협력단
출원/등록기관 사업자등록번호 특허유형 특허 출원/등록구분 출원
기여율 33.33 % 공개여부 공개
증빙자료
최초등록 관리자, 2024-04-11 PM 03시 04분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 41분