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선택적 에칭을 통한 TOPCon 셀의 랩 어라운드 폴리막 제거방법

작성자

관리자

조회수

24

등록일

2024-04-11

지식재산권 상세정보
과제 고효율 터널 산화막을 이용한 패시베이션 전극형 셀과 모듈 개발
지식재산권명 선택적 에칭을 통한 TOPCon 셀의 랩 어라운드 폴리막 제거방법
성과고유번호 PTO-2021-00212146545 성과발생연도 2021 국내외구분 국내
출원/등록번호 1020210180942 출원/등록일자 2021-12-16 출원/등록기관 와이아이테크(주)
출원/등록기관 사업자등록번호 특허유형 특허 출원/등록구분 출원
기여율 100.0 % 공개여부 공개
증빙자료
최초등록 관리자, 2024-04-11 PM 03시 07분 최종수정 관리자, 2024-10-24 PM 01시 42분